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1.1 X射线的产生条件8

第1章 X射线基础8

1.2 X射线的性质9

1.3 X射线谱12

1.4 X射线的散射16

1.5 X射线的衰减20

1.6 X射线的防护25

第2章 晶体学基本知识26

2.1 空间点阵的概念26

2.2 结点、晶向、晶面表示方法29

3.1 X射线在晶体中的衍射36

3.2 布拉格（Bragg）方程36

第3章 布拉格定律和二维X射线衍射设备36

3.3 方位角方程39

3.4 二维衍射设备的几何学特点40

3.5 X射线衍射设备45

3.6 试样的测定51

第4章 X射线的波动性理论和衍射线强度53

4.1 引言53

4.2 X射线的波动性理论——叠加原理53

4.3 多晶X射线衍射强度56

4.4 X射线衍射谱（花样）的形状57

4.5 实用强度方程63

第5章 X射线相分析基础66

5.1 X射线相分析原理66

5.2 衍射X射线的强度66

5.3 相分析方法概要74

第6章 相定性分析及其他78

6.1 相的识别78

6.2 二维X射线衍射技术的发展及应用80

6.3 X射线衍射谱的其他特性及应用89

第7章 相定量分析97

7.1 引言97

7.2 新法推导相定量强度方程98

7.3 定量分析中的相对分析误差104

7.4 相定量分析方法109

7.5 写在相分析之后117

第8章 不对称布拉格反射理论基础121

8.1 不对称布拉格反射基本方程121

8.2 各种扫描模式的关联128

8.3 影响衍射线强度的各种因素130

8.4 应用举例132

8.5 TMCBD模式的例外135

第9章 测角仪各种扫描模式及其关联137

9.1 各种扫描模式的特点137

9.2 各种扫描模式的功用138

9.3 表面扫描模式间的关联142

9.4 方位角函数作图法144

第10章 测角仪的聚焦和几何光路计算147

10.1 引言147

10.2 准聚焦几何光学原理148

10.3 光路计算154

10.4 初级剖面的描述160

10.5 仪器系统宽化的改善167

10.6 理想不完善晶体168

11.1 引言170

第11章 深度（取向）分辨的立体XRD谱170

11.2 物相纵向分析基础理论171

11.3 三维立体XRD谱测定举例175

11.4 三维立体XRD谱的意义177

11.5 STD模式的其他应用方法举例180

第12章 薄膜厚度的测定185

12.1 引言185

12.2 膜厚测定的基本原理185

12.3 膜厚测定的数学近似方法188

12.4 计算机模拟薄膜厚度189

12.5 微束X射线超薄膜反射和能量色散衍射（EDD）理论196

13.2 测定原理200

第13章 残余内应变（应力）的测定200

13.1 引言200

13.3 应力测量公式的推导202

13.4 应力测定204

13.5 （准）聚焦几何光学原理211

13.6 等倾法和侧倾法213

13.7 织构试样的应力测定214

第14章 晶粒大小测定原理220

14.1 引言220

14.2 谢乐方程的布拉格推导方法222

14.3 广义谢乐方程的推导225

14.4 广义强度方程及其意义228

14.5 晶粒大小测定举例229

14.6 关于几何宽化232

第15章 微观应变测定原理234

15.1 引言234

15.2 微观应变表达式的推导235

15.3 微观应变测定举例240

15.4 新旧推导方法的比较244

第16章 仪器几何宽化的评价248

16.1 引言248

16.2 衍射谱宽化机理249

16.3 额外强度的表征257

16.4 额外宽化的评价258

16.5 归纳261

第17章 双宽化剖面分析（直接法）263

17.1 引言263

17.2 基本关系式264

17.3 应用举例270

17.4 剖面分析归纳和总结275

第18章 二维X射线衍射总结——三维实空间X射线衍射基础278

18.1 引言278

18.2 X射线多功能（XMF）数模的构成279

18.3 XMF模型的重要作用284

18.4 三维实空间球极坐标系的构成288

18.5 五位一体的多功能数学模型——三维X射线衍射基本方程290

18.6 三维X射线衍射技术的应用291

18.7 结语292

附录294

附录一 元素的质量吸收系数［μ*(cm2·g-1)］294

附录二 物理常数299